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Electron effective mass and mobility in heavily doped n-GaAsN probed by Raman scattering

机译:用拉曼散射探测重掺杂n-GaAsN中的电子有效质量和迁移率

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摘要

We investigate inelastic light scattering by longitudinal optic phonon-plasmon coupled modes\ud LOPCMs in a series of heavily Se-doped, n-type GaAs1−xNx epilayers with x 0.4%. We perform\uda line shape analysis of the LOPCM spectra to estimate the optical effective mass, mopt\ud , and the\udscattering time of the conduction electrons in GaAsN. We use these results to evaluate an effective\udcarrier mobility for our samples. The values thus obtained, which we compare with measured\udelectron Hall mobilities, indicate that the x-dependence of the mobility in GaAs1−xNx is dominated\udby the scattering time, rather than by the variation of the electron effective mass. The Raman\udanalysis yields mopt\ud values that are lower than those obtained from the band anticrossing model.\ud© 2008 American Institute of Physics.
机译:我们研究了在一系列重度硒掺杂,n型GaAs1-xNx外延层(x含量为0.4%)中的纵向光学声子-等离子体耦合模式\ ud LOPCMs产生的非弹性光散射。我们对LOPCM光谱进行线形分析,以估计光学有效质量mopt \ ud和GaAsN中传导电子的\ udscattering时间。我们使用这些结果来评估样本的有效\非载流子迁移率。如此获得的值(我们将其与测得的\电子霍尔迁移率进行比较)表明,GaAs1-xNx中迁移率的x依赖性主要由散射时间决定,而不是由电子有效质量的变化决定。拉曼分析法得出的mopt \ ud值低于从谱带反交叉模型获得的结果。\ ud©2008美国物理研究所。

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